-
1 atomic force microscope
atomic force microscope Atomkraftmikroskop nEnglish-German dictionary of Electrical Engineering and Electronics > atomic force microscope
-
2 Atomic Force Microscope
(AFM)Атомно-силовой микроскоп (АСМ)Прибор для изучения поверхности твердых тел, основанный на сканировании острием (иглой) кантилевера (зонда) поверхности и одновременном измерении атомно-силового взаимодействия между острием и образцом. Здесь под взаимодействием понимается притяжение или отталкивание кантилевера от поверхности из-за сил Ван-дер Ваальса. Регистрация малых изгибов кантилевера осуществляется оптическим методом. В основном используются два режима измерений – контактный и колебательный. АСМ применяется для снятия профиля поверхности и для изменения её рельефа, а также для манипулирования микроскопическими объектами на поверхности. Возможно исследование как проводящих, так и непроводящих поверхностей, в том числе и через слой жидкости. Разрешение достигает атомарного по горизонтали и существенно превышает его по вертикали. Изобретён в 1986 году Г.Биннигом и К.Гербером в США.♣ Принцип работы атомно-силового микроскопаАнгло-русский словарь по нанотехнологиям > Atomic Force Microscope
-
3 Atomic Force Microscope
(AFM)Атомно-силовой микроскоп (АСМ)Прибор для изучения поверхности твердых тел, основанный на сканировании острием (иглой) кантилевера (зонда) поверхности и одновременном измерении атомно-силового взаимодействия между острием и образцом. Здесь под взаимодействием понимается притяжение или отталкивание кантилевера от поверхности из-за сил Ван-дер Ваальса. Регистрация малых изгибов кантилевера осуществляется оптическим методом. В основном используются два режима измерений – контактный и колебательный. АСМ применяется для снятия профиля поверхности и для изменения её рельефа, а также для манипулирования микроскопическими объектами на поверхности. Возможно исследование как проводящих, так и непроводящих поверхностей, в том числе и через слой жидкости. Разрешение достигает атомарного по горизонтали и существенно превышает его по вертикали. Изобретён в 1986 году Г.Биннигом и К.Гербером в США.♣ Принцип работы атомно-силового микроскопаRussian-English dictionary of Nanotechnology > Atomic Force Microscope
-
4 atomic-force microscope
Макаров: атомно-силовой микроскопУниверсальный англо-русский словарь > atomic-force microscope
-
5 atomic force microscope
Optics: AFMУниверсальный русско-английский словарь > atomic force microscope
-
6 atomic-force microscope
English-russian dictionary of physics > atomic-force microscope
-
7 atomic-force microscope
English-Russian electronics dictionary > atomic-force microscope
-
8 atomic force microscope
mikroskop atomske sile -
9 atomic-force microscope
The New English-Russian Dictionary of Radio-electronics > atomic-force microscope
-
10 Atomic Force Microscope
→ AFMNeue große deutsch-russische Wörterbuch Polytechnic > Atomic Force Microscope
-
11 atomic force microscope (AFM)
атомно-силовий мікроскоп. Тип скануючого зондового мікроскопа з мікроскопічним сенсором сили як зонд. Проводячи сканування силовим сенсором (гнучка консоль з на-конечником) АСМ над поверхнею зразка і записуючи деформацію консолі, можна вимірювати локальну висоту, хімічні і механічні властивості зразкаEnglish-Ukrainian dictionary of microelectronics > atomic force microscope (AFM)
-
12 atomic force microscope (AFM)
атомно-силовий мікроскоп. Тип скануючого зондового мікроскопа з мікроскопічним сенсором сили як зонд. Проводячи сканування силовим сенсором (гнучка консоль з на-конечником) АСМ над поверхнею зразка і записуючи деформацію консолі, можна вимірювати локальну висоту, хімічні і механічні властивості зразкаEnglish-Ukrainian dictionary of microelectronics > atomic force microscope (AFM)
-
13 direct measurement of the force of adhesion of a single particle using an atomic force microscope
Универсальный англо-русский словарь > direct measurement of the force of adhesion of a single particle using an atomic force microscope
-
14 ferrocene moieties immobilized on atomic force microscope
Универсальный англо-русский словарь > ferrocene moieties immobilized on atomic force microscope
-
15 scanning atomic-force microscope
Макаров: сканирующий атомно-силовой микроскопУниверсальный англо-русский словарь > scanning atomic-force microscope
-
16 scanning atomic-force microscope
English-russian dictionary of physics > scanning atomic-force microscope
-
17 scanning atomic-force microscope
English-Russian electronics dictionary > scanning atomic-force microscope
-
18 scanning atomic-force microscope
The New English-Russian Dictionary of Radio-electronics > scanning atomic-force microscope
-
19 microscope
- atomic-force microscope
- C-mode scanning acoustic microscope
- compound microscope
- electron microscope
- electrostatic electron microscope
- emission electron microscope
- exoelectron emission microscope
- field-emission microscope
- field-ion microscope
- flying-spot scanning microscope
- force microscope
- infrared microscope
- interference microscope
- interference contrast microscope
- ion microscope
- Kerr-contrast microscope
- magnetic electron microscope
- magnetic-force microscope
- mirror electron microscope
- petrographic microscope
- point projection electron microscope
- polarizing microscope
- projection microscope
- proton microscope
- radiometric microscope
- reflection electron microscope
- scanning acoustic microscope
- scanning atomic-force microscope
- scanning electron microscope
- scanning ion microscope
- scanning laser acoustic microscope
- scanning magnetic-force microscope - transmission electron microscope
- tunnel microscope
- ultrasonic microscope
- ultraviolet microscope -
20 microscope
- atomic-force microscope
- C-mode scanning acoustic microscope
- compound microscope
- electron microscope
- electrostatic electron microscope
- emission electron microscope
- exoelectron emission microscope
- field-emission microscope
- field-ion microscope
- flying-spot scanning microscope
- force microscope
- infrared microscope
- interference contrast microscope
- interference microscope
- ion microscope
- Kerr-contrast microscope
- magnetic electron microscope
- magnetic-force microscope
- mirror electron microscope
- petrographic microscope
- point projection electron microscope
- polarizing microscope
- projection microscope
- proton microscope
- radiometric microscope
- reflection electron microscope
- scanning acoustic microscope
- scanning atomic-force microscope
- scanning electron microscope
- scanning ion microscope
- scanning laser acoustic microscope
- scanning magnetic-force microscope
- scanning transmission electron microscope
- thermionic-emission electron microscope
- transmission electron microscope
- tunnel microscope
- ultrasonic microscope
- ultraviolet microscopeThe New English-Russian Dictionary of Radio-electronics > microscope
См. также в других словарях:
Atomic force microscope — Microscope à force atomique Pour les articles homonymes, voir AFM et Microscope. Le premier microscope à force ato … Wikipédia en Français
atomic force microscope — n an instrument used for mapping the atomic scale topography of a surface by means of the repulsive electronic forces between the surface and the tip of a microscopic probe moving above the surface abbr. AFM … Medical dictionary
Atomic Force Microscope — Atomic Force Microscope (AFM) Атомно силовой микроскоп (АСМ) Прибор для изучения поверхности твердых тел, основанный на сканировании острием (иглой) кантилевера (зонда) поверхности и одновременном измерении атомно силового взаимодействия… … Толковый англо-русский словарь по нанотехнологии. - М.
Atomic force microscope — The atomic force microscope (AFM) or scanning force microscope (SFM) is a very high resolution type of scanning probe microscope, with demonstrated resolution of fractions of a nanometer, more than 1000 times better than the optical diffraction… … Wikipedia
atomic force microscope — atominės jėgos mikroskopas statusas T sritis chemija apibrėžtis Mikroskopas paviršiaus ypatumams tirti kontroliuojant specialaus zondo sąveikos su paviršiumi jėgą. atitikmenys: angl. atomic force microscope rus. микроскоп атомной силы … Chemijos terminų aiškinamasis žodynas
atomic force microscope — noun A device used to map the atomic structure of a surface by measuring the force acting on the very fine tip of a wire moved over the surface See Also: atomic force microscopy … Wiktionary
atomic force microscope — A type of scanning probe microscope that images a surface by moving a sharp probe over the surface at a constant distance; a very small amount of force is exerted on the tip and probe movement is followed with a laser … Dictionary of microbiology
atomic force microscopy — n the art or process of using an atomic force microscope abbr. AFM … Medical dictionary
Magnetic force microscope — MFM images of 3.2 GB and 30 GB computer hard drive surfaces. Magnetic force microscope (MFM) is a variety of atomic force microscope, where a sharp magnetized tip scans a magnetic sample; the tip sample magnetic interactions are detected and used … Wikipedia
Electrostatic force microscope — Electrostatic force microscopy (EFM) is a type of dynamic non contact atomic force microscopy where the electrostatic force is probed. ( Dynamic here means that the cantilever is oscillating and does not make contact with the sample). This force… … Wikipedia
Friction force microscope — A friction force microscope is an atomic force microscope with a four quadrant photodetector, which allows measuring the frictional force acting on the probing tip sliding on a surface from the torsion of the cantilever beam where the tip is… … Wikipedia